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EN 55024:2010信息技术设备抗扰度特性测试

时间:2019-04-28 15:07 作者:admin 点击:

EN 55024:2010信息技术设备 - 抗扰度特性 - 限值和测量方法(CISPR 24:2010)
 
范围
      国际标准EN 55024:2010适用于信息技术设备(ITE),标准EN 55024:2010将信息技术设备定义为在额定电源电压不超过的情况下运行的任何设备或设备600 V,具有输入,存储,显示,检索,传输,处理,交换,或可能结合所述主功能-信息传送可以使用与一个或多个终端端口的数据和设备的控制的一个主要功能。标准 EN 55024:2010不包括具有无线电传输或接收功能的设备或设备。
 
分类
国际标准 EN 55024:2010有设备没有具体的总体分类。
 
例如
PC,通讯设备,办公设备,数据处理设备, ITE配件,便携式电池供电设备。
 
要求
静电放电(ESD)抗扰度。
电磁场抗扰度。
工频磁场抗扰度。
电源端口的电压骤降和短暂中断抗扰度。
电快速瞬变 - 突发免疫。
浪涌免疫力。
传导射频抗扰度。
测试 港口 水平 性能
静电放电 附件 8千伏空气排出
    4 kVcontact放电  
电磁场 附件 80 MHz- 1 GHz 3 V / m 一个
工频磁场 附件 1 A / m 一个
交流电源 1千伏
  直流电源 0。5千伏
  信号 0。5千伏
浪涌 交流电源 1千伏(线-线) / 2千伏(啉GND)
  直流电源 0。5千伏
  信号 1 kV (线路 - GND) C
传导射频 交流电源 150 kHz- 80兆赫3 V 一个
  直流电源 150 kHz- 80兆赫3 V 一个
  信号 150 kHz- 80兆赫3 V 一个
电压骤降 交流电源 减少100%0。5个循环减少
    30%25个循环
    100%减少250个循环 C.
性能标准
 
标准A
期间和之后的测试EUT应继续按预期无需操作员干预操作。当EUT按预期使用时,不允许性能下降或功能丧失低于制造商规定的最低性能水平。
 
标准B
在测试期间,允许性能下降,但在测试后不允许操作状态或存储数据的变化。经过测试,EUT应按预期运行,无需操作员干预且不会降级。在按照预期使用EUT时,在应用低于制造商规定的性能水平的现象之后,不允许性能下降或功能丧失。
 
标准C
在测试期间和测试之后,允许暂时失去功能,但功能应是可自我恢复的,或者可以通过操作控制和/或关闭/打开EUT的电源来恢复,制造商说明。
 
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